DRK3010 Spettrofotometru li jinżamm fl-idejn b'Apertura Unika ta '8mm
Deskrizzjoni qasira:
Spettrofotometru li jinżamm fl-idejn DRK3010 b'Apertura Unika ta '8mm Introduzzjoni L-ispettrofotometru li jinżamm fl-idejn DRK3010 fih apertura waħda biss ta' 8mm. Kemm il-mod SCI kif ukoll SCE jagħmilha użu wiesa 'f'ħafna applikazzjonijiet. Preċiżjoni għolja ħalli l-ispettrofotometru 3nh adattat aħjar għal sistema ta 'tqabbil tal-kulur għal kejl aħjar tal-kulur u użu tal-formula tal-kulur. L-ispettrofotometru tal-ħakk tas-Serje DRK3010 jadotta modi doppji Bluetooth u USB għal użu usa ', u b'dejta tal-kejl SCI & SCE, huwa kompatibbli w...
DRK3010Spettrofotometru li jinżamm fl-idejn ma
Apertura Waħda ta' 8mm
Introduzzjoni
L-ispettrofotometru li jinżamm fl-idejn DRK3010 fih apertura waħda biss ta '8mm. Kemm il-mod SCI kif ukoll SCE jagħmilha użu wiesa 'f'ħafna applikazzjonijiet. Preċiżjoni għolja ħalli l-ispettrofotometru 3nh adattat aħjar għal sistema ta 'tqabbil tal-kulur għal kejl aħjar tal-kulur u użu tal-formula tal-kulur.
L-ispettrofotometru tal-ħakk tas-Serje DRK3010 jadotta modi doppji Bluetooth u USB għal użu usa ', u b'dejta ta' kejl SCI & SCE, huwa kompatibbli ma 'ħafna marki famużi. 8mm, 4mm jew apertura personalizzata hija fakultattiva. Speical UV dawl jagħmel DRK3060 faċli biex jitkejjel kampjun bl-UV u preċiżjoni għolja u funzjoni estiż PC softwer ħalliha tkun sieħeb tajjeb għall-colorist u l-ġestjoni tal-kwalità tal-kulur.
Jikkonformaw ma 'CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724/1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7, dan l-ispettrofotometru tal-kulur fih apertura waħda biss ta' 8mm. Kemm il-mod SCI kif ukoll SCE jagħmilha użu wiesa 'f'ħafna applikazzjonijiet. Għandu preċiżjoni għolja 0.06 ibbażata fuq pjanċa ta 'kalibrazzjoni bajda mkejla 30 darba f'intervalli ta' 5 sekondi wara li saret kalibrazzjoni bajda.
Karatteristiċi
A.Kombinazzjoni perfetta ta 'dehra sabiħa u l-mekkanika tal-ġisem tal-bniedem
disinn strutturali;
BD/8 ottika ġeometrika, tikkonforma ma 'CIE No.15,GB/T 3978,GB2893, GB/T 18833, ISO7724/1, ASTM E1164, DIN5033 Teil
C.Użu ħajja twila u konsum baxx ta 'enerġija magħquda sors tad-dawl LED
D.Apertura waħda ta '8mm, tappoġġja kemm SCI kif ukoll SCE fl-istess ħin;
E. Kejjel l-ispettri tal-kampjun, data preċiża tal-Lab, tista 'tintuża fit-tqabbil tal-kulur u
trasmissjoni preċiża tal-kulur;
F.Konfigurazzjoni għolja tal-ħardwer elettroniku: LCD tal-kulur TFT ta '3.5 pulzieri, Kapaċitiv
Touch Screen, ħakk konkavi, 256 Iimage Element Double Arrays CMOS
Sensor tal-Immaġni;
Port G.USB, utli ħafna;
H.Super pjanċa ta 'kalibrazzjoni bajda standard reżistenti għat-tebgħa u stabbli;
I. Spazju ta 'ħażna ta' kapaċità kbira, aktar minn 20,000 data ta 'kejl;
J.Żewġ angoli standard ta 'osservatur, varjetà ta' illuminant, varjetà ta 'indiċi tal-kulur, tikkonforma ma' varjetà ta 'dejta kolorimetrika standard, tissodisfa varjetà ta' domanda tal-klijenti għall-kejl tal-kulur;
K.Funzjoni ta 'Lokalizzazzjoni tal-Kamera, pożizzjoni aħjar;
Is-softwer l.PC għandu estensjoni tal-funzjoni qawwija
| Mudell Oġġetti | DRK3010 |
| Ġeometrija Ottika | Irrifletti: di: 8 °, de: 8 ° (illuminazzjoni mxerrda, angolu tal-vista ta '8 gradi) |
| Integrazzjoni Daqs Sfera | 48mm |
| Sors tad-Dawl | Dawl LED Magħqud |
| Modalità spettrofotometrika | Ħakk konkavi |
| Sensor | 256 Image Sensor Double Array CMOS Image Sensor |
| Medda ta' Wavelength | 400-700nm |
| Intervall tal-Wavelength | 10nm |
| Wisa 'Semiband | 10nm |
| Medda ta' Riflettanza Mkejla | 0-200%
|
| Apertura tal-Kejl | Apertura Unika: 8mm/10mm |
| Komponent Spekulari | SCI & SCE |
| Spazju tal-Kulur | CIE Lab, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, Hunter LAB |
| Formula tad-Differenza tal-Kulur | ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00v, ΔE(Hunter) |
| Indiċi Kolorimetriku ieħor | WI(ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Hunter), YI(ASTM D1925, ASTM 313),TI(ASTM E313, CIE/ISO), Metamerism Index MI, Staining Fastness, Kulur Fastness, Color Strength, Opacity, 8° Glossiness |
| Angolu tal-Osservatur | 2°/10° |
| Illuminanti | D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2, F3, F4, F5, F6, F7, F8, F9, F10, F11, F12 |
| Dejta murija | Spettrogramma/Valuri, Valuri tal-Kromatiċità tal-Kampjuni, Valuri/Grafika tad-Differenza tal-Kulur, Riżultat PASS/FAIL, Offset tal-Kulur |
| Ħin tal-Kejl | 2.6s |
| Ripetibbiltà | MAV/SCI: ΔE*≤0.06 |
| Żball bejn l-istrumenti | MAV/SCI: ΔE*≤0.4 |
| Modalità tal-Kejl | Kejl Uniku, Kejl Medju |
| Metodu ta 'Lokalizzazzjoni | Kamera View Finder Lokalizzazzjoni |
| Batterija | Li-ion batterija. 5000 kejl fi żmien 8 sigħat |
| Dimensjoni | L * W * H = 184 * 77 * 105mm |
| Piż | 600g |
| Illuminant Life Span | 5 snin, aktar minn 3 miljun darba kejl |
| Wiri | LCD kulur TFT ta '3.5 pulzieri, Touch Screen capacitiv |
| Port tad-Data | USB |
| Ħażna tad-Data | Standard 2000 Pcs, Kampjun 20000 Pcs |
| Lingwa | Ingliż, Ċiniż |
| Ambjent Operattiv | 0 ~ 40 ℃, 0 ~ 85% RH (l-ebda kondensazzjoni), Altitudni < 2000m |
| Ambjent tal-Ħażna | -20 ~ 50 ℃, 0 ~ 85% RH (l-ebda kondensazzjoni) |
| Aċċessorju Standard | Adapter tal-Enerġija, Batterija Li-ion inkorporata, Gwida għall-Utent, Softwer tal-PC, Kavità ta' Kalibrazzjoni Abjad u Iswed, Qoxra tat-Trab |
| Aċċessorju Fakultattiv | Mikro Printer, Kaxxa tat-Test tat-Trab |
| Noti: L-ispeċifikazzjonijiet huma soġġetti għal bidla mingħajr avviż. | |
STRUMENTI DRICK SHANDONG CO, LTD
Profil tal-Kumpanija
Shandong Drick Instruments Co., Ltd, hija prinċipalment impenjata fir-riċerka u l-iżvilupp, il-manifattura u l-bejgħ ta 'strumenti ta' ttestjar.
Il-kumpanija stabbilita fl-2004.
Il-prodotti jintużaw f'unitajiet ta 'riċerka xjentifika, istituzzjonijiet ta' spezzjoni ta 'kwalità, universitajiet, ippakkjar, karta, stampar, gomma u plastiks, kimiċi, ikel, farmaċewtiċi, tessuti, u industriji oħra.
Drick jagħti attenzjoni għall-kultivazzjoni tat-talent u l-bini tat-tim, li jaderixxi mal-kunċett ta 'żvilupp ta' professjonaliżmu, dedikazzjoni.pragmatiżmu, u innovazzjoni.
Li żżomm mal-prinċipju orjentat lejn il-klijent, issolvi l-ħtiġijiet l-aktar urġenti u prattiċi tal-klijenti, u tipprovdi soluzzjonijiet tal-ewwel klassi lill-klijenti bi prodotti ta 'kwalità għolja u teknoloġija avvanzata.
